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PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環(huán)境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測，用于低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

PSM-4K系列低溫探針臺是一款閉循環(huán)低溫探針臺，緊湊型及低振動的設計，能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個＜5K-350K高低溫真空測試環(huán)境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成材料/器件的IV、CV、光學以及微波等參數檢測，實現低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

廣泛用于圖象表征各種熱轉變過程，能夠直接用于觀察樣品在加熱或冷卻過程中的形態(tài)變化以及結晶過程中形狀、結構、顏色以及大小和數量的變化